Микроскопия сканирующего зонда

Курс читает Мария Сесилия Сальвадори, профессор Лаборатории тонких пленок Института физики университета Сан-Паулу, Бразилия.

Курс дает базовые понятия метода СЗМ, перечисляются возможные режимы работы с зондовым микроскопом, вводится понятие «сканер». Дается подробное описание методов сканирующей туннельной микроскопии, атомно-силовой микроскопии, микроскопии латеральных сил, модуляционной силовой микроскопии. Излагаются основы метода атомно-силовой микроскопии в условиях контактного, прерывистого и бесконтактного режимов.

Дается подробное описание следующих методов сканирующей зондовой микроскопии: магнитно-силовая микроскопия (МСМ), электростатическая силовая микроскопия (ЭСМ), сканирующая зондовая микроскопия методом Кельвина. Устройство и способы производства зондов и наконечников, применяемых для исследования, понятие «разрешение изображения», а также виды дефектов изображения, возникающих при исследовании образцов методами сканирующей зондовой микроскопии, и способы их обнаружения и устранения.

Курс читается на английском языке.

Регистрация на кросс-дисциплинарный учебный модуль